Interferometrlar interferensiya hodisasiga asoslangan o‘lchash asboblari bo‘lib, yorug‘lik tolqinlarining kogerent nurlarini interferensiyalash orqali yuqori aniqlikdagi o‘lchovlar amalga oshiriladi. Ular ikki nurli (Masalan, Jamen va Maykelson interferometrlari) yoki ko‘p nurli (Fabri-Pero interferometri) bo‘lishi mumkin. Interferometrlar optik o‘lchovlarda, spektral chiziqlarning uzunligini aniqlashda, optik qismlarning sifatini tekshirishda, shuningdek metall yuzalarining tekisligini o‘lchash va gazlarning sindirish ko‘rsatkichini aniqlashda keng qo‘llaniladi.